国磊“高性能半导体测试系统”亮相SEMICON展会

国磊是业内同时具备模拟、数字、光三种测试技术能力，并可将三项技术高密度集成进行模、数、光混合测试的高性能半导体测试系统提供商。

本次展会上，国磊携高性能PXIE测试平台、SoC芯片测试机和各类芯片细分赛道的应用板卡与半导体企业实现双向奔赴。国磊提供领先的超高精度AWG板卡、ps级精度TMU板卡、nA/mV级SMU源表板卡、高速DMU数字板卡等高性能测试解决方案，轻松打造媲美NI、爱德万精度的高性能测试系统，用极致性价比满足用户产品高端化迭代的测试需求。

做为本土一家高性能半导体测试系统提供商，“以一流的模块化硬件与可编程高效开发软件为基础的技术平台，是国磊服务和打造极具成本效益的的高性能解决方案的关键渠道”。