功率半导体测试解决方案 

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国磊测试系统支持高达数千伏特/数百安培的全浮动测试通道,可满足功率半导体的各项晶圆级和功能级测试需求,包括测试各项静态参数和动态参数。

 

 

集成在单元内部的同步系统,时间测量单元,任意波形发生器,模拟信号采样器等,在不需要额外配置资源的情况下, 仅用模拟信号量测单元就能进行各种测试时序的安排,以及进行各项时域和频域的分析,包括开关时间测量,线性度分析,谐波分析等。

 

功率半导体简介

功率半导体器件目前主要基于三类材料∶Si、SiC、GaN。

 

 

SiC/GaN:第三代半导体, 其具有高电压、大电流、高温、高频率、低损耗等诸多优势。

 

 

随着对更高效率,更小体积等的追求,近几年SiC,GaN为代表的第三代半导体器件受到越来越多的关注,随着其高速发展,对其测试设备也提出了新的要求。

 

 

国磊半导体瞄准这一块发力,持续给SiC,GaN等功率半导体厂商提供便捷可靠的测试系统。